Back
Mikroskopia Elektronowa. Tom 3. Praktyczna mikroskopia skaningowa : wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej
Authors:
- Wiesław Dziadur,
- Janusz Mikuła
Abstract
Trzeci tom Mikroskopii Elektronowej poświęcony jest praktyce skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM). Przedstawiono podstawowe zasady obsługi cyfrowego SEM, wyposażonego w przystawkę do mikroanalizy rentgenowskiej (EDS). Podano wybrane przykłady zastosowań SEM w inżynierii materiałowej.
- Record ID
- CUT172a4e614d3c4f31a657eebf8555f71c
- Book type
- Handbook
- Book categories
- ;
- Author
- Other contributor
- Corporate author
- Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
- Publisher (including from the ministerial list of publishers)
- Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
- Publisher name (outside publisher list)
-
Wydaw. PK
- Publishing place (Publisher address)
- Kraków
- Pages
- 519
- ISBN
-
978-83-65991-85-0
- Issue year
-
2019
- Other elements of collation
- il. (w tym kolor.)
- Substantive notes
- Bibliogr. przy rozdz.
- Keywords in Polish
- mikroskopia skaningowa, mikroanaliza rentgenowska, pomiary widmowe, badania przy użyciu SEM
- Language
- pol (pl) Polish
- Score (nominal)
- 80
- Uniform Resource Identifier
- https://cris.pk.edu.pl/info/book/CUT172a4e614d3c4f31a657eebf8555f71c/
- URN
urn:pkr-prod:CUT172a4e614d3c4f31a657eebf8555f71c
* presented citation count is obtained through Internet information analysis, and it is close to the number calculated by the Publish or PerishOpening in a new tab system.